ADMiRA

Microscopía electrónica de transmisión y barrido (STEM)

Configuraciones

Estativo

AURIGA (Carl Zeiss)

Software

SmartSEM

Configuración

• Cañón electrónico - cátodo de Wolframio/Circonio

• Columna - Gemini II, Zeiss

• Cañón iónico - Cátodo de Galio, Canon

• Columna FIB - Column, Canon

• Sistema de inyección de gas - single needle GIS, Zeiss

• Detectores - Secondary electron detector (SESI), Inlense EsB detector,

Back scatter electron detector (BSD), Annular STEM detector.

• Limpiador de plasma - Evactron 25 De-Contaminator, XEI Scientific

• Sistema de cancelación de EMF - MK4 EMI Compensation System, IDE

Capacidades

• Barrido

• Transmisión

• Cañón FIB (Focused ion beam)

• Resolución de 1 nm

Auriga

Requisitos

  • Las muestras deben venir preparadas para microscopía de barrido o bien de transmisión. Si el usuario lo prefiere, tambien contamos con el servicio de preparación entera de la muestra. 

 

  • Para microscopía de barrido, los portamuestras pueden ser proporcionados por la Unidad de Microscopía. Las muestras pueden ser analizadas una vez que hayan sido procesadas en un desecador de punto crítico pero de preferencia deben haber sido recubiertas por metal (Sputter coater).

 

  • Para microscopía de transmisión, los cortes ya deben estar montados en rejillas que de preferencia hayan sido tratadas con formvar.

Focused Ion Beam (FIB)

FIB combina dos técnicas: el corte de finas rebanadas de la muestra embebida y la captura de imagen por microscopía electrónica.

Fuente: Bert Weckhuysen / Utrecht University

Untitled.001-5

Microscopía Electrónica de Barrido en el tegumento de cisticercos (Taenia crassiceps)que tratados con un compuesto derivado de la curcumina

FIB-SEM

Fuente: Hanshuo Liu et al., Journal of Power Sources 306 (2016) 300-8

lipos con medidas

Microscopía Electrónica de Transmisión de una suspensión de liposomas que contienen doxorrubicina